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技術(shù)文章

Technical articles

當前位(wèi)置:首(shǒu)頁(yè)技(jì)術(shù)文(wén)章數字式太陽能級矽(guī)晶(jīng)體少子壽(shòu)命測試儀(yí) 型(xíng)號:DP-LT-200

數字式太(tài)陽能(néng)級矽(guī)晶(jīng)體少子(zǐ)壽命測試儀(yí) 型號:DP-LT-200

更(gēng)新時間(jiān):2017-06-22點擊次(cì)數(shù):1943

數(shù)字式(shì)太陽(yáng)能級矽(guī)晶體(tǐ)少(shǎo)子壽命測(cè)試儀 型(xíng)號(hào):DP-LT-200

1.    儀(yí)器(qì)應用範圍及(jí)說明

本設備(bèi)是按照家(jiā)標(biāo)準GB/T1553“矽單(dān)晶(jīng)少數載流子壽(shòu)命測(cè)定(dìng)的(dí)頻光電導衰(shuāi)減(jiǎn)法(fǎ)”。頻(pín)光(guāng)電導衰減法在我半導體集(jí)成電(diàn)路,晶體(tǐ)管,整流(liú)器(qì)件(jiàn),核探器行業(yè)已運用(yòng)了三十(shí)多(duō)年(nián),積(jī)累了豐(fēng)富的使(shǐ)用(yòng)經驗(yàn),經過數次(cì)十多個(gè)單位(wèi)巡(xún)回測(cè)試(shì)的(dí)考驗,證明(míng)是種(zhǒng)成熟(shú)可(kě)靠的(dí)測試方法,特別適合於矽塊(kuài),矽棒(bàng)的(dí)少(shǎo)子體(tǐ)壽(shòu)命(mìng)測量(liáng);也(yě)可對矽片行測(cè)量,給出(chū)相(xiāng)對(duì)壽(shòu)命(mìng)值。方(fāng)法本身(shēn)對樣品表麵的(dí)要求為研磨麵(miàn),因此(cǐ)製樣(yàng)特別(bié)簡(jiǎn)便。

數字式矽晶(jīng)體少(shǎo)子(zǐ)壽(shòu)命(mìng)測試(shì)儀(yí)有以(yǐ)下(xià)特(tè)點(diǎn):

可(kě)測(cè)量(liáng)太(tài)陽(yáng)能級多晶矽塊(kuài),單晶(jīng)矽(guī)棒少(shǎo)數載流子體壽(shòu)命。表麵(miàn)無(wú)需拋光(guāng),直接對(duì)切割(gē)麵或研磨(mó)麵(miàn)行測量(liáng),儀(yí)器可按(àn)需(xū)方提供的有(yǒu)標(biāo)稱值(zhí)的(dí)校(xiào)準樣(yàng)品調試壽命值。

1.1     可(kě)測(cè)量太陽(yáng)能(néng)級(jí)單晶(jīng)及多(duō)晶(jīng)矽(guī)片少數載流子(zǐ)的(dí)相(xiāng)對壽(shòu)命,表(biǎo)麵無需拋光,鈍化(huà)。

1.2     液晶屏(píng)上直接(jiē)顯示(shì)少(shǎo)子(zǐ)壽命值,同(tóng)時(shí)在綫顯示(shì)光電(diàn)導衰退(tuì)波形(xíng)。

1.3   配置的紅(hóng)外光源:0.904~0.905μm波長(cháng)紅外(wài)脈衝激(jī)光(guāng)器,光穿透矽晶體深(shēn)度(dù)較淺(qiǎn)≈30μm,但(dàn)光(guāng)強(qiáng)較強,有利(lì)於測(cè)量(liáng)低(dī)阻太陽(yáng)能(néng)級矽晶(jīng)體少(shǎo)數(shù)載流(liú)子(zǐ)體(tǐ)壽命,脈(mài)衝率(shuài)30W。

1.4     測量範圍寬廣(guǎng)

測(cè)試(shì)儀可直(zhí)接(jiē)測量:

a,研磨或切割(gē)麵(miàn):電(diàn)阻(zǔ)率≥0.5Ω•cm的(dí)單(dān)晶(jīng)矽棒,定向(xiàng)結晶(jīng)多晶(jīng)矽(guī)塊少子體壽命,切割(gē)片的少(shǎo)子(zǐ)相(xiāng)對(duì)壽(shòu)命。

b,拋光麵:電阻(zǔ)率(shuài)在0.5~0.01Ω•cm範(fàn)圍(wéi)內(nèi)的矽單晶(jīng),鍺單晶厚(hòu)度(dù)小(xiǎo)於1mm的(dí)拋光片(piàn)。

2.    設備(bèi)要(yào)求(qiú)及性能標(biāo)

2.1     少(shǎo)子壽命測試範圍:0.5μs~6000μs            

2.2     樣品的(dí)電阻(zǔ)率範(fàn)圍:ρ﹥0.1Ω·cm(非回(huí)爐料)             

2.3     測試(shì)速(sù)度(dù):1分(fēn)鐘(zhōng)/片(piàn)                     

2.4     紅外(wài)光源波(bō)長(cháng): 0.904~0.905μm                  

2.5     頻(pín)振蕩源:用(yòng)石英(yīng)諧(xié)振器(qì),振(zhèn)蕩頻(pín)率:30MHZ

2.6     前(qián)置放(fàng)大(dà)器(qì),放大(dà)倍數約(yuē)25,頻(pín)寬2HZ-2MHZ

2.7     可測單晶尺(chǐ)寸:斷(duàn)麵豎測:

直徑(jìng)25mm-150mm;厚度(dù)2mm-500mm

縱(zòng)向(xiàng)臥測:直徑5mm-20mm;長(cháng)度50mm-200mm

2.8     測(cè)量方(fāng)式:采(cǎi)用數(shù)字(zì)示波器(qì)直接(jiē)讀數方式

2.9     測試(shì)分辨率(shuài):數字(zì)存儲示波器zui小分辨率(shuài)0.01μs

2.10  設(shè)備重量(liáng):20 Kg

2.11  儀(yí)器電源(yuán):電源(yuán)電(diàn)壓類型:單相210~230V,50Hz,帶電(diàn)源隔離(lí),濾(lǜ)波(bō),穩壓,不能與未做保護措施的(dí)大率,頻設(shè)備(bèi)共用電(diàn)源。