導電(diàn)型號(hào)測試儀導電型(xíng)號檢測儀

更(gēng)新(xīn)時間(jiān)：2013-09-30

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導電(diàn)型(xíng)號(hào)測試儀(yí) 導電(diàn)型(xíng)號檢測(cè)儀(yí) 型(xíng)號：DP-STY-3

DP-STY—3型導(dǎo)電(diàn)型號(hào)測(cè)試儀(yí)是嚴格(gé)按照標GB/T1550-1997和(hé)ASTM F42（非本征半導體村(cūn)料導(dǎo)電(diàn)類(lèi)型的(dí)標準(zhǔn)測試(shì)方(fāng)法(fǎ)）中(zhōng)的熱(rè)探針(zhēn)及(jí)整(zhěng)流導(dǎo)電類(lèi)型測試方(fāng)法的導電類(lèi)型(xíng)鑒別(bié)儀。

本儀器(qì)熱探(tàn)筆(bǐ)內裝(zhuāng)有(yǒu)加熱(rè)和控(kòng)溫(wēn)組件(jiàn)，自動(dòng)加(jiā)熱並使溫(wēn)度(dù)維(wéi)持(chí)在(zài)50?60℃範(fàn)圍內(nèi)，冷熱(rè)探(tàn)筆在半(bàn)導(dǎo)體材(cái)料上產(chǎn)生(shēng)的熱電(diàn)動(dòng)勢及(jí)整流法產生(shēng)的電(diàn)勢差(chà)經低噪(zào)聲，低漂移的集(jí)成(chéng)運算(suàn)放大(dà)器放(fàng)大後，用(yòng)液(yè)晶(jīng)顯示器(qì)件（LCD）及檢流計(jì)示(shì)型號方向。儀(yí)器靈敏度分(fēn)，低(dī)兩(liǎng)檔(dàng)，可(kě)判(pàn)別大(dà)分(fēn)非本征(zhēng)半導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料(liào)型號（從(cóng)阻單晶到重摻單晶(jīng)）。

二(èr)，導(dǎo)電型(xíng)號(hào)測(cè)試儀導電型(xíng)號檢(jiǎn)測(cè)儀性(xìng)能

1，可判別(bié)鍺(zhě)，矽(guī)著料(liào)的電阻率(shuài)範(fàn)圍(wéi)：

鍺(zhě)：非本征鍺10³～10^?4Ω·cm

矽(guī)：10⁺⁴～10^-4Ω·cm

經實驗證明：在室(shì)溫(wēn)情況(kuàng)下，熱電法對於電阻率低於1000Ω·cm的矽(guī)單晶整流法結果可靠。

2，鍺，矽單晶(jīng)直徑(jìng)及(jí)長(cháng)度(dù)：不受(shòu)限製(zhì)

3，顯示方式：由(yóu)顯示N和P的液晶器(qì)件直(zhí)接示(shì)，同(tóng)時中(zhōng)心刻度為(wéi)零(líng)位檢流(liú)計也(yě)在示型(xíng)號，針向左(zuǒ)偏轉(zhuǎn)被測樣品(pǐn)為N型(xíng)，針向右(yòu)偏轉被測(cè)樣品為P型。

5，探針(zhēn)：用(yòng)ASTM F42標準中建議的不鏽(xiù)鋼(gāng)作冷熱探(tàn)針材(cái)料(liào)，針尖為(wéi)60℃錐(zhuī)體，熱筆(bǐ)溫(wēn)度自(zì)動保(bǎo)持在50?60℃範圍內(nèi)，冷(lěng)筆與室溫相同(tóng)。整(zhěng)流(liú)法行(háng)選用硬(yìng)質(zhì)合金作探針。

6，電(diàn)源及耗：AC 220V±10%，50HZ交(jiāo)流(liú)供(gōng)電，zui大耗（熱(rè)筆加熱(rè)狀態）小(xiǎo)於(yú)40W，平均(jūn)耗≈10W。

7，外型尺寸(cùn)：370×320×110（mm）

8，重(zhòng)量(liáng)：約 4 kg

上(shàng)一(yī)條(tiáo)導(dǎo)電型號(hào)測試(shì)儀導(dǎo)電(diàn)型號(hào)檢測儀導電型號(hào)分(fēn)析儀(yí)
下(xià)一(yī)條壓(yā)電壓表電(diàn)壓(yā)表

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