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方塊電(diàn)阻測(cè)試(shì)儀(yí)/電(diàn)阻測試儀 型(xíng)號(hào):DP-ST-21
發布(bù)時(shí)間:2013/11/30
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2. 方塊電(diàn)阻測(cè)試儀/電阻測試(shì)儀 型號(hào):DP-ST-21
方塊(kuài)電阻測(cè)試(shì)儀(yí)是種依照類似(sì)的家標準和(hé)美A.S.T.M標準,專(zhuān)門(mén)測(cè)量半(bàn)導(dǎo)體薄層電(diàn)阻(表(biǎo)麵電阻(zǔ))的新(xīn)型儀器,可用於測(cè)量般半(bàn)導體材(cái)料,導電薄膜(ITO透明氧(yǎng)化膜),金(jīn)屬(shǔ)薄(báo)膜……等(děng)物(wù)質(zhì)的薄層電(diàn)阻。
該(gāi)儀器以(yǐ)大(dà)規(guī)模集成電(diàn)路為主要(yào)核心;用基準電(diàn)源(yuán)和(hé)運算放(fàng)大器(qì)組成度穩流源;帶(dài)回路有(yǒu)效(xiào)正常(cháng)示電路;並配(pèi)以大(dà)型LCD顯示讀數,使儀(yí)器具(jù)有(yǒu)體積(jī)小(xiǎo),重(zhòng)量(liáng)輕,外(wài)形(xíng)美,易(yì)操作,測(cè)量速度(dù)快,度的特(tè)點(diǎn)。
◆ 特點(diǎn): | ||||||||||||||
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◆ 標: | ||||||||||||||
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