DP-DMR-1C型方阻儀

使(shǐ)

用

說

明(míng)

書

北(běi)京亞(yà)歐德鵬(péng)科有限(xiàn)公司(sī)

DP-DMR-1C型方(fāng)阻(zǔ)儀是(shì)種(zhǒng)於(yú)測量(liáng)塑料薄膜(mó)金屬鍍(dù)層(céng)方(fāng)塊電阻的(dí)儀(yí)器
，也可以(yǐ)用於測量其(qí)它(tā)各(gè)種薄(báo)膜導電材(cái)料(liào)。由於方阻與鍍層厚度成反(fǎn)比
，可以通過稱(chēng)重法或(huò)者其它(tā)計量(liáng)方法
，由方(fāng)阻(zǔ)推算(suàn)出(chū)鍍層厚度。儀器配有的，帶(dài)彈(dàn)簧的四探針(zhēn)探頭(tóu)。由於探針帶有(yǒu)彈(dàn)簧
，使(shǐ)得測(cè)試時壓(yā)力恒(héng)定
，接(jiē)觸(chù)可(kě)靠(kào)
，測試穩定(dìng)
，壽命也長。

麵板示意圖(tú)如下(xià)。

• 參數

1. 測量(liáng)範圍(wéi)：1mΩ-20KΩ分(fēn)為(wéi)五個(gè)量(liáng)程

1. 1 基(jī)本誤(wù)差：△=±0.2%

2，2 儀器(qì)分的基(jī)本誤差(chà)±0.2%±2個(gè)字(zì)

     2000mΩ檔為△=±0.2%±5個字(zì)

1. 作(zuò)環境：溫(wēn)度(dù)5℃-40℃
   ，濕度20%-80%RH
2. 電(diàn)    源(yuán)：220V±10%
   ，50/60Hz
   ，3VA
3. 外形尺寸：寬(kuān)200×80×深200（mm）,重(zhòng)1.5kg

• 作原理

    方(fāng)塊(kuài)電(diàn)阻的定義見(jiàn)附錄(lù)
，鍍金(jīn)屬(shǔ)塑(sù)料薄(báo)膜方塊(kuài)電(diàn)阻的(dí)測試(shì)可(kě)以

采用(yòng)四(sì)探(tàn)針測試(shì)原(yuán)理。測試探(tàn)頭上(shàng)的(dí)四(sì)個(gè)探針等距離(lí)分(fēn)布(bù)
，“1，4”探(tàn)針(zhēn)提供測試電流
，“2，3”探針(zhēn)提取電位差(chà)。在(zài)膜寬(kuān)大大於探(tàn)針間距時(shí)
，就可以(yǐ)計算出(chū)方阻(zǔ)與(yǔ)等(děng)效四端(duān)電阻(zǔ)的(dí)比值為4.532。儀(yí)器內根據(jù)這個比(bǐ)值自動計算(suàn)出方阻大(dà)小(xiǎo)。

等效(xiào)四端電(diàn)阻(zǔ)測(cè)試(shì)采用(yòng)電(diàn)流電壓(yā)法(fǎ)測試原(yuán)理(lǐ)
，原(yuán)理(lǐ)如圖所示(shì)。由恒流源(yuán)輸(shū)出恒(héng)穩(wěn)的(dí)電(diàn)流供(gōng)給被(bèi)測電阻Rx
，恒定(dìng)電流的(dí)大小由K1選擇(zé)
，該選(xuǎn)擇也即(jí)決(jué)定儀器的量(liáng)程。Rx上的電壓(yā)降(jiàng)經直(zhí)流(liú)放大器放大(dà)後
，送到數(shù)

字(zì)顯(xiǎn)示電路(lù)。因Rx=V/I
，數字顯(xiǎn)示(shì)電路(lù)根據(jù)直流放(fàng)大器送來的V和恒流(liú)源(yuán)送來的代表(biǎo)I的(dí)信號（即基準(zhǔn)信號）
，即(jí)可顯示(shì)出(chū)Rx的大(dà)小。

因為采用(yòng)了電流(liú)電壓法的四端測試(shì)原理(lǐ)
，這樣就可以消除端(duān)口接(jiē)觸電(diàn)阻和引(yǐn)綫電(diàn)阻的影響
，保證(zhèng)了測(cè)試(shì)度。消除(chú)端口(kǒu)電(diàn)阻影(yǐng)響的原(yuán)理是
，供給電(diàn)流(liú)的(dí)端(duān)口(kǒu)1，4
，也(yě)稱(chēng)為I端(duān)口
，由(yóu)於(yú)恒流(liú)源輸出(chū)的(dí)電(diàn)流不受外電(diàn)阻的影(yǐng)響(xiǎng)
，所(suǒ)以(yǐ)1，4端口存在的(dí)雜散電阻(zǔ)不會(huì)改(gǎi)變流(liú)過Rx電(diàn)流(liú)的大(dà)小
，也(yě)即(jí)不會(huì)影響電阻(zǔ)測(cè)試的準(zhǔn)確(què)度(dù)。提(tí)取電(diàn)壓降的端口2，3也稱為V端口(kǒu)或(huò)P端口。由於直流(liú)電(diàn)壓(yā)放(fàng)大器是(shì)輸(shū)入阻抗(kàng)放大(dà)器
，2，3端(duān)口即使存(cún)在(zài)幾十(shí)歐姆的雜散電阻
，也(yě)不(bù)會(huì)影(yǐng)響放(fàng)大器得(dé)到的輸(shū)入電壓(yā)
，這樣儀器便能測試小(xiǎo)到幾個(gè)毫歐(ōu)的(dí)電阻
，而不(bù)會受到測試(shì)綫和端口雜(zá)散電(diàn)阻的影響(xiǎng)。

三，使(shǐ)用方法

1. 開(kāi)啟(qǐ)位(wèi)於儀器後的(dí)電(diàn)源開關
   ，予熱5分種(zhǒng)。

    2，把被測薄(báo)膜(mó)有鍍層(céng)麵(miàn)朝(zhāo)上(shàng)放在(zài)平整(zhěng)的桌麵上(shàng)
，硬度要適中(zhōng)。

    3，把探(tàn)頭放(fàng)在(zài)要測(cè)的(dí)位
，輕輕壓下
，選擇(zé)合(hé)適(shì)的量(liáng)程
，即可(kě)從方(fāng)阻(zǔ)儀上顯(xiǎn)示(shì)出鍍層的方阻值。

    4，根據四(sì)探針(zhēn)測(cè)試(shì)原(yuán)理要求
，探頭與(yǔ)鍍膜(mó)邊緣(yuán)要有(yǒu)定(dìng)的(dí)距離
，才(cái)能保證(zhèng)有較準(zhǔn)確(què)的(dí)讀數(shù)。因(yīn)此(cǐ)探(tàn)頭(tóu)與(yǔ)被測鍍(dù)膜的邊緣(yuán)不能太近。如定需(xū)要(yào)
，也(yě)應(yīng)使(shǐ)探(tàn)針的(dí)排列與(yǔ)邊緣成(chéng)垂直狀態。同理(lǐ)
，在膜窄時(shí)也應(yīng)采(cǎi)取(qǔ)這樣的(dí)措施(shī)。但(dàn)要注(zhù)意(yì)的是：雖(suī)然采取(qǔ)這樣的措(cuò)施(shī)
，也會使讀數(shù)上升5%-20%
，由探針與(yǔ)邊(biān)緣距(jù)離的(dí)大小決(jué)定(dìng)。

5，儀(yí)器的零點檢(jiǎn)查

    由(yóu)於儀(yí)器(qì)的(dí)zui大零點飄移量(liáng)小於(yú)±1個(gè)字(zì)
，所(suǒ)以平(píng)常使(shǐ)用時不需行零點檢查(chá)。但(dàn)經(jīng)過半(bàn)年(nián)
，或(huò)有故障時(shí)應檢查次零(líng)點
，方(fāng)法如下(xià)：

方(fāng)法(fǎ)
，找塊光(guāng)潔的紫銅板(bǎn)
，量程置於(yú)大(dà)量(liáng)程檔
，把探(tàn)頭壓在(zài)紫(zǐ)銅板上(shàng)
，此(cǐ)時讀數應為零(líng)。

方(fāng)法二(èr)：找四(sì)根(gēn)帶(dài)香蕉(jiāo)插(chā)頭(tóu)的測試(shì)綫
，把(bǎ)1，4端聯(lián)在(zài)起
，2，3端聯(lián)在起
，然後再找根導(dǎo)綫(xiàn)把(bǎ)兩個端頭聯在起
，如(rú)圖(tú)二(èr)所示(shì)。此時按(àn)儀器(qì)何(hé)量(liáng)程
，均應顯示(shì)零。如各量程的零(líng)點(diǎn)偏差小(xiǎo)於(yú)2個字(zì)
，可(kě)以(yǐ)調(tiáo)節(jié)儀器(qì)內(nèi)
，印刷左上的(dí)零(líng)點(diǎn)微調
，使(shǐ)偏(piān)差為零(líng)。如各(gè)量程的(dí)零點(diǎn)偏(piān)差大於(yú)2個(gè)字(zì)
，則表示(shì)儀(yí)器(qì)有(yǒu)故(gù)障
，應送(sòng)回本廠(chǎng)修(xiū)理。

• 儀器的計量(liáng)與(yǔ)維護

1. 檢查(chá)儀器(qì)的零(líng)點(diǎn)。

    2，儀器的(dí)計量可(kě)用0.1Ω，1Ω，10Ω，100Ω，1000Ω五隻標(biāo)準(zhǔn)電阻檢(jiǎn)查(chá)儀器的(dí)五(wǔ)個量程。

    計(jì)量時準備四(sì)根(gēn)帶香蕉(jiāo)插(chā)頭(tóu)和(hé)鱷(è)魚(yú)夾的(dí)測試綫(xiàn)
，按圖(tú)三(sān)所(suǒ)示的方(fāng)法(fǎ)聯接儀器和標準(zhǔn)電(diàn)阻(zǔ)。用(yòng)0.1Ω計(jì)量2000mΩ量(liáng)程(chéng)
，此時(shí)讀(dú)數(shù)應為453mΩ。用(yòng)1Ω計(jì)量 20Ω量程
，此時(shí)讀(dú)數(shù)應(yīng)為(wéi)4.53Ω。用10Ω計量(liáng)200Ω量(liáng)程
，此時(shí)的讀數應為(wéi)45.3Ω。用(yòng)100Ω計量2000Ω量(liáng)程(chéng)
，此時的(dí)讀數(shù)應為453Ω。計(jì)量結(jié)果(guǒ)應滿足參(cān)數(shù)中(zhōng)關於(yú)誤差(chà)的規定。

    般情(qíng)況下
，可用隻1Ω或(huò)者(zhě)2Ω
，度為(wéi)分(fēn)之二的標(biāo)準(zhǔn)電阻
，計(jì)量(liáng)儀器的20Ω量程
，讀數(shù)應為標準(zhǔn)電阻值乘上4.532倍(bèi)。如差
，可卸下儀器(qì)的(dí)四個(gè)橡(xiàng)皮腳(jiǎo)螺(luó)絲(sī)
，取下(xià)上蓋(gài)
，調(tiáo)節(jié)電路板(bǎn)中的微(wēi)調(tiáo)電阻
，使(shǐ)讀(dú)數準(zhǔn)確(què)。

    2，儀器(qì)出故障時(shí)
，應檢查(chá)測(cè)試(shì)探(tàn)頭(tóu)上(shàng)的(dí)四根測試綫(xiàn)是否(fǒu)聯接(jiē)好
，以及電(diàn)源(yuán)分(fēn)的(dí)電(diàn)纜(lǎn)，插(chā)頭，插(chā)座，保(bǎo)險絲等(děng)是(shì)否好。如確係儀(yí)器(qì)內故障(zhàng)應送(sòng)回本(běn)公(gōng)司(sī)修理(lǐ)
，因(yīn)集(jí)成電(diàn)路和(hé)電(diàn)阻(zǔ)都經(jīng)過(guò)配對(duì)
，自行修(xiū)理(lǐ)有可能成難(nán)以恢(huī)復的損壞(huài)。本儀(yí)器實(shí)行三(sān)包
，免費修理期為年。

    3，儀(yí)器(qì)應避免(miǎn)在潮濕的(dí)環(huán)境(jìng)下(xià)使用(yòng)。不使(shǐ)用時應用塑(sù)料(liào)罩了
，以防水汽和灰(huī)塵的影(yǐng)響。

附(fù)錄：什麼是方(fāng)阻

蒸(zhēng)發(fā)鋁(lǚ)膜，導電(diàn)漆(qī)膜，印(yìn)製(zhì)電(diàn)路(lù)板(bǎn)銅箔膜等薄(báo)膜狀(zhuàng)導電材料(liào)
，衡(héng)量它(tā)們(mén)厚(hòu)度的方法(fǎ)就是測(cè)試(shì)它們(mén)的方(fāng)阻。什(shí)麼是(shì)方阻(zǔ)呢(ní)？方阻就是方塊電(diàn)阻(zǔ)
，個正方(fāng)形的薄膜(mó)導電(diàn)材料(liào)邊到邊“之(zhī)”間的(dí)電阻
，如圖所示
，即B邊到C邊(biān)的電阻(zǔ)值(zhí)。方塊電(diàn)阻有(yǒu)個(gè)特性
，即(jí)意(yì)大(dà)小(xiǎo)的(dí)正方形邊(biān)到邊(biān)的電(diàn)阻都是(shì)樣的
，不(bù)管邊長是(shì)1米還是(shì)0.1米(mǐ)
，它們(mén)的(dí)方阻都(dū)是樣
，這(zhè)樣方(fāng)阻(zǔ)僅(jǐn)與導電(diàn)膜(mó)的厚度等因(yīn)素有關。

方(fāng)塊電(diàn)阻如何(hé)測試(shì)呢(ní)
，可不(bù)可以(yǐ)用(yòng)表(biǎo)電阻檔直接測(cè)試圖所示的材(cái)料(liào)呢(ní)？不(bù)可以(yǐ)的
，因(yīn)表的表筆隻能(néng)測(cè)試點(diǎn)到點之(zhī)間的(dí)電(diàn)阻
，而這(zhè)個(gè)點到點(diǎn)之(zhī)間(jiān)的電(diàn)阻(zǔ)不表(biǎo)示(shì)何意義。如要測(cè)試方阻
，我們需要在A邊和B邊(biān)各(gè)壓(yā)上(shàng)個(gè)電(diàn)阻(zǔ)比導電(diàn)膜電阻(zǔ)小得多(duō)的圓銅(tóng)棒(bàng)
，而且這個圓銅棒光潔度要
，以便和導電膜接觸良好(hǎo)。這樣(yàng)我們(mén)就可(kě)以通過(guò)用(yòng)表(biǎo)測試兩(liǎng)銅(tóng)棒之間(jiān)的電(diàn)阻(zǔ)來測出導(dǎo)電薄(báo)膜材(cái)料的(dí)方(fāng)阻。如果(guǒ)方(fāng)阻(zǔ)值(zhí)小
，如在幾個歐(ōu)姆(mǔ)以(yǐ)下(xià)
，因為(wéi)存在接(jiē)觸電阻以(yǐ)及(jí)表本身性能(néng)等(děng)因(yīn)素(sù)
，用表測(cè)試就會(huì)存(cún)在讀(dú)數不穩和(hé)測不準的(dí)情況。這時(shí)就需要用專門的用(yòng)四端(duān)測試(shì)的(dí)低電(diàn)阻(zǔ)測(cè)試儀(yí)器
，如(rú)毫歐計(jì)，微(wēi)歐(ōu)儀等(děng)。測(cè)試(shì)方法如(rú)下：用(yòng)四根光(guāng)潔的(dí)圓銅棒壓在導電薄(báo)膜(mó)上
，如(rú)圖二所示。四根(gēn)銅棒用A，B，C，D表示(shì)
，它們(mén)上麵焊(hàn)有導綫接到(dào)毫(háo)歐計上(shàng)
，我(wǒ)們使BC之(zhī)間的距(jù)離L等(děng)於導電薄(báo)膜的寬(kuān)度W
，至於AB，CD之(zhī)間(jiān)的(dí)距離沒有要(yào)求
，般在10--20mm就可以了
，接(jiē)通毫(háo)歐(ōu)計以後
，毫歐(ōu)計(jì)顯示的(dí)阻值(zhí)就是材料的方(fāng)阻值(zhí)。這種(zhǒng)測試(shì)方(fāng)法的(dí)優點(diǎn)是(shì)：（1）用(yòng)這種方(fāng)法毫(háo)歐計(jì)可(kě)以測(cè)試(shì)到幾(jī)百毫歐(ōu)
，幾十毫(háo)歐
，甚(shèn)至(zhì)更(gēng)小(xiǎo)的(dí)方(fāng)阻值
，（2）由於(yú)采(cǎi)用(yòng)四(sì)端(duān)測試
，銅(tóng)棒(bàng)和導(dǎo)電膜(mó)之間的(dí)接(jiē)觸電阻
，銅棒到(dào)儀(yí)器(qì)的(dí)引綫電阻
，即使比被測電阻(zǔ)大也不(bù)會影響測(cè)試(shì)度(dù)。（3）測試度。由(yóu)於(yú)毫歐計(jì)等儀(yí)器的度很(hěn)
，方阻(zǔ)的(dí)測試(shì)度主(zhǔ)要(yào)由膜(mó)寬(kuān)W和(hé)導(dǎo)電棒BC之間的距離(lí)L的機械(xiè)度決定(dìng)
，由(yóu)於(yú)尺(chǐ)寸(cùn)大
，這(zhè)個機(jī)械(xiè)度可以做(zuò)得。在實際操作時
，為了提測(cè)試(shì)度(dù)和(hé)為了測(cè)試長條(tiáo)狀材料
，W和(hé)L不(bù)定相等
，可(kě)以使(shǐ)L比W

大很多
，此時方阻Rs=Rx*W/L,Rx為毫(háo)歐計讀數。

此方(fāng)法(fǎ)雖然(rán)度(dù)
，但麻煩
，尤其(qí)在(zài)導電薄(báo)膜(mó)材料大(dà)
，形狀不整齊時
，很難測試(shì)
，這時就需(xū)要(yào)用的(dí)四(sì)探針探(tàn)頭來(lái)測試(shì)材(cái)料的方阻(zǔ)
，如圖三(sān)所(suǒ)示。探頭由(yóu)四根探針阻成
，要(yào)求四根(gēn)探針頭的距(jù)離(lí)相等。四根探針(zhēn)由(yóu)四根引聯接(jiē)到方阻(zǔ)測(cè)試儀(yí)上
，當(dāng)探頭(tóu)壓(yā)在導電(diàn)薄膜材(cái)料上麵時(shí)
，方阻(zǔ)計(jì)就能立(lì)即(jí)顯示(shì)出(chū)材(cái)料(liào)的(dí)方(fāng)阻值(zhí)
，具(jù)體原理是(shì)外(wài)端的(dí)兩根探針(zhēn)產(chǎn)生(shēng)電流場(cháng)
，內端(duān)上(shàng)兩根探針測(cè)試(shì)電流場在這兩(liǎng)個(gè)探點(diǎn)上(shàng)形成的電勢。因為(wéi)方阻越(yuè)大
，產生的電勢也越大
，因(yīn)此(cǐ)就可(kě)以(yǐ)測出(chū)材料的方(fāng)阻(zǔ)值。需要提出的(dí)是(shì)雖(suī)然(rán)都(dū)是(shì)四(sì)端測(cè)試
，但原理上(shàng)與圖二(èr)所(suǒ)示用(yòng)銅棒測方阻的(dí)方法不同。因(yīn)電流(liú)場(cháng)中(zhōng)僅(jǐn)少(shǎo)分電(diàn)流在BC點上(shàng)產(chǎn)生電壓(yā)（電勢）。所示靈敏度要低得(dé)多
，比(bǐ)值為(wéi)1：4.53。

影響(xiǎng)探頭法(fǎ)測(cè)試(shì)方(fāng)阻(zǔ)度(dù)的(dí)因素(sù)：（1）要求探頭(tóu)邊緣(yuán)到材(cái)料邊(biān)緣的距(jù)離大大於(yú)探針間距
，般(bān)要(yào)求10倍以上。（2）要(yào)求(qiú)探針頭之(zhī)間(jiān)的距(jù)離(lí)相(xiāng)等
，否則就要產生(shēng)等(děng)比例測試誤差(chà)。（3）理論上講(jiǎng)探(tàn)針頭(tóu)與導電薄(báo)膜接(jiē)觸(chù)的點越小越好。但實際應用(yòng)時
，因針(zhēn)狀(zhuàng)電容易破壞被(bèi)測(cè)試的(dí)導電薄(báo)膜(mó)材料
，所以般采用圓形(xíng)探針(zhēn)頭(tóu)。

zui後談談(tán)實際應用中存在的問題(tí)

    1，如(rú)果被測導(dǎo)電(diàn)薄(báo)膜(mó)材料(liào)表麵上不(bù)幹(gān)淨(jìng)
，存在油汙(wū)或(huò)材(cái)料(liào)暴(bào)露在空(kōng)氣中時間過(guò)長
，形成氧(yǎng)化(huà)層
，會影(yǐng)響(xiǎng)測試穩定(dìng)性和(hé)測(cè)試度。在測(cè)試中需要引起注意。

    2，如(rú)探(tàn)頭(tóu)的探(tàn)針油汙(wū)等也會(huì)引起測(cè)試不(bù)穩(wěn)
，此時(shí)可(kě)以(yǐ)把探頭在幹(gān)淨(jìng)的(dí)白紙(zhǐ)上滑動幾(jī)下擦擦就可(kě)以(yǐ)了(liǎo)。

    3，如果材(cái)料是蒸發鋁膜等
，蒸(zhēng)發(fā)的厚度(dù)又太(tài)薄(báo)的話
，形(xíng)成的鋁(lǚ)膜不能均匀的連成(chéng)片
，而是(shì)形(xíng)成點(diǎn)狀分布
，此時(shí)方(fāng)塊(kuài)電阻(zǔ)值會(huì)大大增加
，與通過稱重法(fǎ)計算的厚度和方阻值不(bù)樣
，此(cǐ)時就要考慮到加(jiā)入(rù)修正係(xì)數

北(běi)京(jīng)亞歐德鵬科有(yǒu)限公(gōng)司

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