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DP15528凝(níng)膠強(qiáng)度測定(dìng)儀(yí),凝膠(jiāo)時(shí)間強度(dù)測試儀(yí)
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專(zhuān)用儀器儀(yí)表
DP-TS-2便攜式四(sì)探針測(cè)試(shì)儀(yí)/四(sì)探針檢(jiǎn)測儀/電(diàn)阻率(shuài)檢測儀(yí)

便攜式四探針測試儀/四探針(zhēn)檢(jiǎn)測儀/電阻率檢測(cè)儀(yí)
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產(chǎn)品分(fēn)類article
相(xiāng)關文(wén)章電子(zǐ)式液(yè)體密度(dù)計(jì)vs玻(bō)璃(lí)浮子(zǐ)式:精度,速度(dù)與(yǔ)成本(běn)對比(bǐ)
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便攜式(shì)四探針測試(shì)儀(yí)/四探針檢測儀/電阻率檢(jiǎn)測(cè)儀 型(xíng)號:DP-TS-2
測量範(fàn)圍寬,度,穩定性好(hǎo),結構緊(jǐn)湊(còu),易(yì)操(cāo)作的(dí)便(biàn)攜式
體積(jī)僅為(wéi):125mm(寬(kuān))*145mm()*245mm(深)
DP-TS-2/TS-2A型便攜(xié)式(shì)四探(tàn)針(zhēn)測(cè)試儀是(shì)運(yùn)用四探(tàn)針測量原理的(dí)多用途(tú)綜(zōng)合測量(liáng)設(shè)備。該(gāi)儀器(qì)按照(zhào)單晶(jīng)矽物理測試(shì)方法家標準並(bìng)參(cān)考美 A.S.T.M 標準而(ér)的(dí),於(yú)測(cè)量矽(guī)晶塊,晶(jīng)片電阻率(shuài)及擴散層,外(wài)延(yán)層,ITO導電箔(bó)膜(mó),導(dǎo)電(diàn)橡膠等材(cái)料(liào)方(fāng)塊電阻的(dí)小型(xíng)儀器。
儀器采用了(liǎo)電(diàn)子(zǐ)行,裝配(pèi)。具有能選擇直觀(guān),測量(liáng)取數快(kuài),度,測量範圍(wéi)寬(kuān),穩定性好,結構緊湊,易(yì)操作(zuò)等特點(diǎn)。如有需要(yào)可加配測(cè)試台使(shǐ)用(yòng)。
本儀器(qì)廣(guǎng)泛應(yīng)用於太陽能單晶(多晶(jīng))廠家為(wéi)矽(guī)材料的(dí)分選測(cè)試(shì),半(bàn)導體材料廠,半導體器(qì)件廠,科研(yán)單位,等(děng)院校對半導體材(cái)料(liào)的電(diàn)阻性能(néng)測試。
術 標 : | ||||||||||||||||||||||||
便(biàn)攜(xié)式四(sì)探針(zhēn)測試(shì)儀按(àn)測量範(fàn)圍可選(xuǎn)配(pèi)DP-TS-2型或(huò)DP-TS-2A型(xíng),區別:測(cè)量(liáng)範(fàn)圍不樣(yàng)。 | ||||||||||||||||||||||||
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