安帽(mào)電緣性能測(cè)試(shì)儀(yí)    型號：DP-A704

安帽電(diàn)緣性(xìng)能(néng)測(cè)試儀(yí)儀器(qì)用途(tú)： 
用於(yú)測(cè)試安(ān)帽對電(diàn)的緣性(xìng)能。

 試(shì)驗(yàn)方法(fǎ) 
優采(cǎi)用方法(fǎ)2和方法3行測量
，兩種檢(jiǎn)測方法同時合(hé)格為(wéi)合格。 
如果安帽(mào)有(yǒu)通(tōng)氣孔，金屬零(líng)件貫穿帽(mào)殼(ké)等情況時采用(yòng)方(fāng)法1和方法(fǎ)3
，兩種檢測方法同時(shí)合(hé)格為合格(gé)。 
測試之(zhī)前(qián)需(xū)將安帽(mào)行(háng)預處(chǔ)理(lǐ)： 
預(yù)處(chǔ)理方(fāng)法：浸水(shuǐ)
，放置在(zài)溫度20℃±2℃
，濃度(dù)為3g/L的氯(lǜ)化(huà)鈉溶(róng)液的(dí)水槽裏浸(jìn)泡(pào)24h
，從(cóng)溶(róng)液中(zhōng)取出(chū)安(ān)帽(mào)後應(yīng)在2min內(nèi)將安(ān)帽(mào)表麵擦幹(gān)。 
以(yǐ)上預(yù)處(chǔ)理要(yào)求(qiú)可配合A705安(ān)帽(mào)綜(zōng)合(hé)預(yù)處理(lǐ)箱（含紫(zǐ)外綫老化，溫箱，低(dī)溫箱，恒(héng)溫水(shuǐ)浸(jìn)泡(pào)箱，調(tiáo)溫(wēn)調濕箱(xiāng)）

方法1：將安帽(mào)放在頭模上(shàng)
，將(jiāng)頭(tóu)箍鎖(suǒ)緊；將(jiāng)探頭接觸安帽外表麵的(dí)意處(chǔ)
，端為半(bàn)形(xíng)；在頭(tóu)模(mó)和(hé)探頭(tóu)之間施(shī)加(jiā)交流測(cè)試電壓
，調(tiáo)整測試電壓在(zài)1min內(nèi)將電(diàn)壓增(zēng)加至(zhì)1200V±25V
，保(bǎo)持(chí)15s；重復(fù)行測試(shì)
，每安帽測試10個點。記(jì)錄泄(xiè)漏電(diàn)流的大小(xiǎo)及可能(néng)的擊穿現象。 
方法2：將安帽倒放在合適的容器(qì)中
，在(zài)容(róng)器和(hé)帽(mào)殼中注(zhù)入3g/L的(dí)氯化鈉溶(róng)液
，直至(zhì)溶液麵距帽(mào)殼(ké)邊(biān)緣(yuán)10mm為(wéi)止(zhǐ)。將電(diàn)分(fēn)別放入帽殼(ké)內外的(dí)溶液中(zhōng)
，調(tiáo)整測(cè)試電(diàn)壓在(zài)1min內增加至1200V±25V
，保(bǎo)持(chí)15s。記(jì)錄(lù)泄漏(lòu)電流的大小(xiǎo)及可(kě)能(néng)的(dí)擊(jī)穿現象。 
方(fāng)法3：用兩(liǎng)個探(tàn)頭(tóu)接觸安帽(mào)外(wài)表麵上意兩點並(bìng)施加(jiā)電(diàn)壓(yā)
，兩點間的(dí)距(jù)離不(bù)小(xiǎo)於20mm。調整測試電壓(yā)在1min內增加至1200V±25V
，保(bǎo)持15s；測(cè)量(liáng)安帽(mào)表麵(miàn)兩點間的(dí)泄(xiè)漏(lòu)電流
，重復行測試(shì)
，每安(ān)帽(mào)測(cè)試(shì)10個點
，記(jì)錄(lù)泄漏(lòu)電流(liú)的大小(xiǎo)及可能(néng)的擊穿現象

 主要參數： 
1，電(diàn)流表示值誤(wù)差±1%
2，電(diàn)壓表(biǎo)示(shì)值誤差(chà)±1%
3，計時器示值(zhí)誤(wù)差±1%
4，探(tàn)頭直徑4mm
，端為(wéi)半形。 
5，能(néng)在(zài)1min內(nèi)電壓增加(jiā)至1200V±25V
，保持(chí)15s。 
6，調壓(yā)器：量程1500V

 特征 
1，優(yōu)質(zhì)不鏽鋼儲(chǔ)水(shuǐ)槽。 
2，LED數字顯(xiǎn)示(shì)電流(liú)，電壓(yā)值。

 符合(hé)標準 
GB/T 2812－2006《安帽測(cè)試方(fāng)法》內的電緣(yuán)的性能(néng)測試標準要求(qiú)。 
GB/T 2811－2007《安帽》

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