顆粒圖(tú)像(xiàng)分(fēn)析儀(yí)/顯(xiǎn)微圖像分(fēn)析係統/顯(xiǎn)微圖(tú)像儀(yí) 型(xíng)號(hào)LY-2006

 LY-2006型(xíng)顯(xiǎn)微(wēi)圖(tú)像分析係(xì)統是我(wǒ)公(gōng)司研(yán)製(zhì)的種(zhǒng)圖像(xiàng)法顆粒(lì)分析儀(yí)器。它(tā)是傳統(tǒng)的(dí)顯微(wēi)鏡法與現(xiàn)代的(dí)圖像處理(lǐ)相結(jié)合的產物(wù)。它的基(jī)本作流程是(shì)通過數字攝(shè)象(xiàng)機(jī)抓拍顆粒在(zài)顯微(wēi)鏡下(xià)的圖(tú)像並傳輸到(dào)計(jì)算機中(zhōng)，通過專業(yè)的顆粒(lì)圖像分析軟(ruǎn)件對圖像行處(chǔ)理與(yǔ)分析， 經(jīng)顯示(shì)器和打印(yìn)機顯示(shì)和(hé)輸出分(fēn)析結(jié)果。本(běn)儀器(qì)具有直觀，準確，測(cè)試(shì)範圍寬等特(tè)點(diǎn)，不僅可(kě)以(yǐ)直接觀察到(dào)顆粒形(xíng)貌(mào)，還(huán)可以計算出每(měi)個顆粒粒(lì)徑和圓形度以及粒度分(fēn)布和圓(yuán)形(xíng)度分布，為科研(yán)，域(yù)增添了(liǎo)種新(xīn)的粒度測試手段。

•     測(cè)試範(fàn)圍：1-3000微(wēi)米；
•     顯微鏡：中(zhōng)外(wài)合(hé)資(zī)光學(xué)顯微(wēi)鏡（可(kě)選配(pèi)其他種(zhǒng)類顯(xiǎn)微鏡，如口(kǒu)顯(xiǎn)微(wēi)鏡，金相(xiāng)顯微(wēi)鏡等(děng)）；
•     數字攝(shè)像(xiàng)機：300像素；
•     zui大(dà)光(guāng)學放大倍數：1600倍；
•     係(xì)統總(zǒng)放大(dà)倍數：5000倍(bèi)；
•     zui大分(fēn)辨率(shuài)：0.1微(wēi)米/像(xiàng)素；
•     重復性(xìng)誤差(chà)：<3%（不(bù)包(bāo)含樣品製備因(yīn)素(sù)成的誤(wù)差）。

•     像素尺寸(cùn)：3.2μm X 3.2μm；
•     傳感器類(lèi)型：逐行(háng)掃(sǎo)描CMOS；
•     輸出顏(yán)色：bayer彩(cǎi)色(sè)；
•     數(shù)據位數(shù)：紅綠(lǜ)藍各(gè)10選8；
•     光學(xué)尺寸(cùn)：1/2英寸；
•     鏡頭接口(kǒu)：CS,C；
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•     信噪(zào)比：43dB；
•     動態(tài)範(fàn)圍：60dB；
•     清晰度：>1000綫；
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•     曝(pù)光方式(shì)：ERS；
•     同步(bù)方(fāng)式(shì)：外觸發或(huò)連續采(cǎi)集；
•     輸出(chū)方(fāng)式：USB2.0；
•     數(shù)據傳輸距離：數(shù)據傳(chuán)輸距離5米（加中繼可達25m）；
•     可(kě)編(biān)程(chéng)控製(zhì)：圖像尺寸，亮度，增益(yì)，幀率(shuài)，曝(pù)光時間；
•     供(gōng)電(diàn)要求：5V；
•     耗(hào)：<2.25W；
•     外(wài)形尺(chǐ)寸(cùn)（mm）：54.5x54.5x46.1（含(hán)接圈），38x38x38.7（不含(hán)接(jiē)圈）。

• 儀器(qì)組(zǔ)成(chéng)：
•     LY-2006型顯(xiǎn)微圖像(xiàng)分(fēn)析係(xì)統包(bāo)括粒(lì)度(dù)分析軟(ruǎn)件(jiàn)，數(shù)字攝像(xiàng)機(jī)，顯微(wēi)鏡(jìng)，電腦，打(dǎ)印(yìn)機等(děng)組成(chéng)分。
•    
• 分析(xī)原理：
•     通過對顆(kē)粒數量和(hé)每個(gè)顆粒所(suǒ)包含的(dí)像素量(liáng)的統計(jì)，計算出(chū)每(měi)個(gè)顆粒的等效麵(miàn)積圓(yuán)和(hé)等體積，從(cóng)而(ér)得到顆粒(lì)的等(děng)效圓麵積直(zhí)徑(jìng)和(hé)等體(tǐ)積直徑以及(jí)圓形度(dù)等(děng)參(cān)數(shù)，再對(duì)所(suǒ)有的(dí)顆(kē)粒(lì)行分級(jí)統(tǒng)計，從(cóng)而得(dé)到(dào)粒(lì)度分布(bù)，圓形度分布等信(xìn)息。

四，LY-2006顆粒(lì)圖像(xiàng)分析(xī)儀軟(ruǎn)件(jiàn)能

• 圖(tú)像處(chǔ)理能：
•     對圖像(xiàng)行(háng)灰度轉換(huàn)，二值化，分(fēn)割，刪(shān)除，剪切，粘貼(tiē)，縮放(fàng)，填充等係列(liè)處理，得(dé)到顆粒(lì)清晰(xī)的(dí)黑白(bái)二(èr)值(zhí)化圖像(xiàng)。
•    
• 數據(jù)處理能(néng)：
•     通過(guò)對圖像行處(chǔ)理，測量軟(ruǎn)件自動統計出顆(kē)粒個數，然後(hòu)計算每(měi)個顆(kē)粒所(suǒ)包(bāo)含的像(xiàng)素數(shù)，得(dé)出(chū)顆粒(lì)的(dí)麵(miàn)積，等(děng)效(xiào)直徑(jìng)，等效(xiào)周(zhōu)長，實際周(zhōu)長(cháng)，圓(yuán)形度(dù)等(děng)參數(shù)。通(tōng)過粒度(dù)分級(jí)，得到用戶需(xū)要的粒(lì)度分(fēn)布表和(hé)分布圖以(yǐ)及d10，d50，d90等(děng)典(diǎn)型參數(shù)，並可根據(jù)需(xū)要選擇(zé)個(gè)數分(fēn)布或體積(jī)分(fēn)布(bù)。
•    
• 軟件輸(shū)出項目(mù)：
•     包(bāo)括原(yuán)始數(shù)據（樣(yàng)品信息和測試信(xìn)息）；分(fēn)析數據(jù)（粒(lì)度(dù)分布表(biǎo)/粒度分(fēn)布(bù)圖）；圖形（頻率(shuài)分(fēn)布直(zhí)方圖(tú)和累(léi)計分(fēn)布曲(qū)綫(xiàn)）；典(diǎn)型結果（中位(wèi)徑(jìng)，平均徑，圓形(xíng)度等）。
•    
• 報告(gào)輸(shū)出(chū)能(néng)：
•     可以打印(yìn)原(yuán)始(shǐ)圖像和多(duō)種測試報告，包括粒度(dù)報告(gào)，圖像報(bào)告(gào)，圓(yuán)形(xíng)度(dù)報告(gào)以及(jí)粒度(dù)和(hé)典(diǎn)型(xíng)圖(tú)像的(dí)綜(zōng)合報告。

•     研(yán)磨(mó)材(cái)料：白剛玉，金(jīn)剛石(shí)，碳化矽，碳化硼(péng)，氧化鈰等；
•     電(diàn)池材(cái)料：石(shí)墨(mò)，鈷酸(suān)鋰等(děng)；
•     其(qí)他(tā)：可用來觀察各種非金(jīn)屬(shǔ)粉，金(jīn)屬粉以及其(qí)他(tā)粉體(tǐ)。

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