繼電器綜合(hé)參(cān)數(shù)測試(shì)儀(yí)/繼電(diàn)器綜合參數檢測儀(yí)/綜(zōng)合參(cān)數檢測(cè)儀   型號：DP-4E

繼(jì)電(diàn)器(qì)綜(zōng)合(hé)參數測試(shì)儀詳(xiáng)細(xì)內容
本(běn)測(cè)試儀是用單(dān)片微(wēi)機(jī)開發的(dí)測試(shì)儀(yí)器。它能自動測試電磁(cí)繼(jì)電(diàn)器的綫(xiàn)圈(quān)電阻(zǔ)，接觸電(diàn)阻
，吸(xī)合電壓，釋放(fàng)電壓
，二次(cì)吸(xī)合電壓
，吸合時(shí)間(jiān)，釋(shì)放(fàng)時間
，吸(xī)合回(huí)跳(tiào)，釋(shì)放回(huí)跳(tiào)和同步(bù)時間(jiān)差等(děng)十個參數。顯示四位(wèi)有效(xiào)數字。該(gāi)測(cè)試(shì)儀(yí)可(kě)將(jiāng)多達100組的繼(jì)電(diàn)器(qì)測(cè)試條件儲存(cún)在(zài)*存(cún)儲器裏
，可以長期保存
，停電時不會(huì)丟失。該測試儀能(néng)連電(diàn)腦
，可以從(cóng)鍵盤(pán)上設(shè)置(zhì)測試條件(jiàn)參(cān)數；從鍵(jiàn)盤上(shàng)修改(gǎi)測試條(tiáo)件(jiàn)參數(shù)；屏(píng)幕(mù)顯(xiǎn)示測試結果,（存貯或(huò)不存貯(zhù)）；打印(yìn)測量(liáng)結(jié)果(guǒ)及統計表；顯(xiǎn)示(shì)和打(dǎ)印各參數分布直(zhí)方圖(tú)和(hé)其它圖(tú)型。

繼電器綜合參數(shù)測試儀主要(yào)標(biāo)

1.綫(xiàn)圈(quān)電(diàn)阻(zǔ)測試(shì)範(fàn)圍(wéi)：3.0-511.0Ω和(hé)511.0-8000Ω兩(liǎng)檔
，測(cè)試電流≤10mA；誤差±1%。顯示度四(sì)位
，位小數(shù)或(huò)四位整數(shù)。

2.接觸電阻測(cè)試條件DC 10mA/ 1A,範(fàn)圍(wéi):0-199.9mΩ,誤(wù)差1%±0.5mΩ。顯(xiǎn)示度(dù)四位(wèi)
，位小數。

3.額定電壓(yā)範圍：0-50V,分辨(biàn)率0.01V，誤差1%±0.05V；顯(xiǎn)示度四(sì)位
，小數點後兩位(wèi)有效數字。

4.感動和(hé)開(kāi)放電壓(yā)：0-50V, 分辨(biàn)率0.01V，誤(wù)差1%±0.05V；顯示(shì)度四(sì)位(wèi)
，小(xiǎo)數點(diǎn)後兩(liǎng)位有效數(shù)字(zì)。

5.時間參數測試範(fàn)圍(wéi)：0-40.00ms; 顯示度四位(wèi)
，小(xiǎo)數(shù)點(diǎn)後(hòu)兩位有效數(shù)字(zì)。

說明(míng)：其(qí)中(zhōng)吸(xī)合時間+吸合(hé)回跳(tiào)時間(jiān)≤40ms
，釋放(fàng)時(shí)間(jiān)+釋放回跳時間≤40ms。

6.可(kě)采(cǎi)用(yòng)方波(bō)（快(kuài)測(cè)）或(huò)斜坡(pō)（測(cè)）兩(liǎng)種方法測試電(diàn)磁繼電器的各(gè)項參(cān)數(shù)；方波法隻(zhī)顯(xiǎn)示合格和(hé)不合格(gé)
，以及(jí)哪(nǎ)種(zhǒng)參(cān)數(shù)不合格(gé)
，斜(xié)坡法(fǎ)可顯(xiǎn)示各(gè)參(cān)數的數值(zhí)；

7.zui多(duō)次可(kě)測(cè)隻(zhī)2組(zǔ)轉換(huàn)的(dí)電磁(cí)繼電(diàn)器(qì)；測試時(shí)間(jiān)≤1.5秒(miǎo)（含顯示時間）；

8.可(kě)儲存多(duō)達(dá)100組(zǔ)測(cè)試(shì)條(tiáo)件(jiàn)（即(jí)可預(yù)存100種(zhǒng)產品的(dí)參數(shù)）
，用(yòng)戶可直接(jiē)調(tiáo)用。

9.外(wài)型(xíng)尺寸(cùn)：長*深*=280 X 230 X 110；

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