便攜(xié)式四(sì)探(tàn)針(zhēn)電阻(zǔ)率測(cè)試儀 四探針電阻率測試儀(yí) 四(sì)探針(zhēn)電阻率(shuài)檢(jiǎn)測儀(yí)

四探針(zhēn)電阻(zǔ)率(shuài)測(cè)定儀 型號：DP-KDY-1A

便攜式(shì)四探(tàn)針電阻率(shuài)測試儀 四探(tàn)針(zhēn)電阻(zǔ)率測試(shì)儀(yí)概述
便攜(xié)式電阻(zǔ)測度儀(yí)是用來測量矽晶塊，晶(jīng)片電阻率及擴(kuò)散(sàn)層，外(wài)延層(céng)，ITO導(dǎo)電箔(bó)膜，導電(diàn)橡膠等材料方(fāng)塊電(diàn)阻的(dí)小(xiǎo)型(xíng)儀器。
本儀器按照半導體材料電阻率(shuài)的及(jí)家(jiā)標準測(cè)試方法(fǎ)有關(guān)規(guī)定。
它主要由電器(qì)測(cè)量份（主(zhǔ)機）及四(sì)探頭(tóu)組成(chéng)，需要時(shí)可加配測(cè)試架(jià)。
為減小體積(jī)，本儀器用(yòng)同塊(kuài)數(shù)字(zì)表測量電流及阻(zǔ)率(shuài)。樣(yàng)品(pǐn)測(cè)試電流(liú)由寬的恒流源提(tí)供(gōng)，隨時(shí)可行(háng)校準，以確(què)保電阻率(shuài)測(cè)量(liáng)的準確度。因此(cǐ)本儀(yí)器不(bù)僅可以(yǐ)用(yòng)來(lái)分(fēn)材(cái)料也可(kě)以(yǐ)用(yòng)來(lái)作產品(pǐn)檢(jiǎn)測(cè)。對(duì)1～100Ω•cm標準(zhǔn)樣(yàng)片(piàn)的(dí)測量瓿差(chà)不過(guò)±3%，在此範(fàn)圍內達(dá)到家標準機(jī)的(dí)水平(píng)。
便(biàn)攜(xié)式(shì)四探針(zhēn)電阻率(shuài)測(cè)試(shì)儀(yí) 四探針電(diàn)阻(zǔ)率測試儀測量範圍：
可(kě)測量 電(diàn)阻率：0.01～199.9Ω•cm。
可(kě)測方塊(kuài)電阻(zǔ)：0.1～1999Ω/口(kǒu)
當(dāng)被測材料(liào)電阻率≥200Ω•cm數字表顯(xiǎn)示(shì)0.00。
（2）恒(héng)流源：
輸(shū)出電流：DC 0.1mA～10mA分(fēn)兩檔
10mA量(liáng)程(chéng)：0.1～1mA 連(lián)續可調(tiáo)
10mA量程(chéng)：1mA ～10mA連續可調
恒流度：各檔均優於(yú)±0.1%
適(shì)合測量(liáng)各(gè)種厚(hòu)度(dù)的矽(guī)片
（3） 直流數(shù)字(zì)電(diàn)壓表
測量(liáng)範圍(wéi)：0～199.9mv
靈敏度(dù)：100μv
準確度：0.2%（±2個字）
（4） 供(gōng)電電(diàn)源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 率8W
（5） 使用環境(jìng)：
相(xiāng)對(duì)濕(shī)度≤80%
（6） 重量，體積
重量：2.2 公(gōng)斤
體積(jī)：寬(kuān)210×100×深240（mm）
（7）KD探針頭(tóu)
壓痕直徑：30/50μm
間距(jù)：1.00mm
探(tàn)針(zhēn)合力：8±1N
針材：TC